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Détection de la position des encoches sur les wafers

Position detection of wafer notches

Le système de vision détecte la position angulaire des encoches sur les wafers.

La résolution de la caméra de 5 mégapixels et les algorithmes intégrés de l'outil de détection de tache de contour évolutif permettent la détection stable de l'encoche ainsi que l'émission des données de position et de dimensions.

Avantages

Une caméra de 2 mégapixels était utilisée pour détecter la position de l'encoche, mais cette caméra n'avait pas une répétabilité stable. Avec la mise en œuvre du système de la série XG, d'une caméra à grande vitesse de 5 mégapixels et du nouvel outil de détection de tache de contour évolutif, l'encoche a été détectée de manière stable.

DÉCOUVREZ LES DÉTAILS DES PRODUITS

  • The XG Series offers standard programming directly with the controller or advanced programming using the optional Vision Editor PC software.

  • Système de vision industrielle haute performance, convivial et facile d’utilisation.

  • La série CV-5000 offre la gamme de modèles de caméras la plus étendue de sa catégorie, ce qui permet de sélectionner le modèle optimal en fonction de l'application.

  • Une flexibilité extrême, grâce à un large choix de caméras utilisant le moteur de traitement d'image le plus performant de l'industrie.

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