Défauts de forme dans les boîtiers de CMOS

En utilisant les données 3D, la Série LJ-S8000 détecte de manière fiable les défauts tels que les déformations des boîtiers céramiques et les anomalies de hauteur de borne ne pouvant pas être identifiés par la couleur seule. Grâce à son mécanisme de balayage intégré, elle peut être directement connectée à un appareil existant pour une installation immédiate.

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