Micromètre numérique haute précision et ultra-haute vitesse

Grâce à un temps d’exposition très court, un contrôle précis de la cible peut être effectué, même en cas de vibration, pour une mesure des plus justes.

Fréquence d’échantillonnage de 16000 Hz

L’intégration des circuits périphériques du capteur CMOS haute vitesse au sein d’une seule puce a permis d’améliorer considérablement le rapport signal/bruit et d’atteindre une fréquence d’échantillonnage très élevée. Par exemple, les cibles se déplaçant à une vitesse de 1000 m/min. peuvent être mesurées à un pas d’environ 1 mm. Même les cibles soumises à des vibrations à haute vitesse peuvent être mesurées de façon stable.

Le capteur CMOS de surveillance reconnaît l’orientation de la cible et ajuste les valeurs mesurées en conséquence afin d’éviter toute erreur de mesure due à l’inclinaison.

Réglage de l’inclinaison

L’inclinaison d’une cible est reconnu à partir de l’image capturée par le capteur CMOS de surveillance. Les erreurs dues à l’inclinaison sont automatiquement corrigées et n’affectent ainsi aucunement le résultat de la mesure. En outre, l’image capturée peut être vérifiée à l’aide d’un logiciel, mettant la mesure à la portée de tous.

La série LS-9000 utilise le capteur CMOS de position de la cible afin de déterminer la position de la cible à mesurer suivant deux axes. Le retour d’informations sur l’installation et la position de la cible est ainsi facilité et ne requiert qu’un seul système.

Détection de la position suivant deux axes entre le transmetteur et le récepteur

Grâce aux données supplémentaires obtenues grâce au capteur CMOS de position de la cible, la série LS-9000 peut déterminer la position de la cible suivant les axes X et Y.

Un outil de mesure de diamètre extérieur/d’espacement ultra-fin permet la mesure d’espacements et de diamètres auparavant impossibles à détecter.